測(cè)試程序

首先確保該設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，并在工作區(qū)域是安全的，如設(shè)備DE-通電和斷開(kāi)，所有相關(guān)的工作許可已經(jīng)批準(zhǔn)和所有的鎖/標(biāo)簽。

接下來(lái)，放電電容靜電放電棒或紅外測(cè)試儀，具有自動(dòng)放電功能的設(shè)備（特別是高壓設(shè)備）。

紅外測(cè)試儀上的導(dǎo)線，然后可以連接的設(shè)備的導(dǎo)電部分。例如，對(duì)于三芯和接地電纜，紅外測(cè)試之間施加核心（核心1的Core 2，核心1至3和核心的Core 2核心3），每個(gè)核心和大地之間。同樣，對(duì)于三相電機(jī)，的電路breakrs，隔離開(kāi)關(guān)等的IR測(cè)試已經(jīng)可以應(yīng)用上面的設(shè)備終端（與大地連接）。

請(qǐng)注意，施加紅外測(cè)試接地時(shí)，它是很好的做法，紅外測(cè)試儀的正極連接到大地，以避免在地球上的任何極化效應(yīng)。

一旦連接上，紅外測(cè)試儀是一個(gè)典型的測(cè)試持續(xù)時(shí)間為1分鐘通電。1分鐘后的紅外測(cè)試測(cè)量記錄。

當(dāng)IR測(cè)試完成后，再次放電電容一段時(shí)間的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的4-5倍。

測(cè)試結(jié)果的解釋

紅外測(cè)試的zui低值取決于設(shè)備的類(lèi)型和額定電壓的。他們還按照標(biāo)準(zhǔn)而有所不同。有些標(biāo)準(zhǔn)將定義zui小的紅外測(cè)試值，對(duì)于一般的電氣裝置。

例如，對(duì)于低電壓裝置在IEC的世界，IEC 60364-6 [1]表6A給出了zui小的IR值和還表明試驗(yàn)電壓，即

標(biāo)稱(chēng)電路電壓（VAC）	測(cè)試電壓（Vdc）	絕緣電阻（MΩ）
特低電壓	250	0.5
高達(dá)500V	500	1.0
500V以上	1,000	1.0

在ANSI / NEC世界，標(biāo)準(zhǔn)ANSI / NETA ATS-2009 [2]提供了大多數(shù)類(lèi)型的電氣設(shè)備的試驗(yàn)規(guī)程和驗(yàn)收水平。表100.1提供代表接受紅外測(cè)試測(cè)量，這應(yīng)該用在任何其他的指導(dǎo)的情況下（從制造商或其他準(zhǔn)則）的值：

NFPA 70B [3]也提供了一些指導(dǎo)，為不同類(lèi)型的設(shè)備絕緣電阻測(cè)試。

影響測(cè)試結(jié)果的因素

主要有兩個(gè)因素會(huì)影響紅外測(cè)試結(jié)果：

溫度

   電阻具有逆指數(shù)關(guān)系隨溫度變化，即隨著溫度的升高，阻力將減少，反之亦然。由于zui小可接受的紅外測(cè)試值是基于一個(gè)固定的參考溫度（攝氏20 ^度），所測(cè)得的紅外（IR）測(cè)試值必須被校正到參考溫度，以使感。

  作為一個(gè)經(jīng)驗(yàn)法則，每10 ^? C增加溫度（反之亦然）的電阻減半。因此，如果測(cè)得的紅外測(cè)試值是2M Ω在攝氏20 ^度，那么它會(huì)在30 ^? C或4M Ω 1M Ω在10 ℃。

   ANSI / NETA ATS-2009表100.14提供的修正系數(shù)，紅外測(cè)試測(cè)量溫度以外的20 ^? C或攝氏40 ^度，這是兆歐表自由書(shū)“小洞不補(bǔ)，校正因子的基礎(chǔ)上反過(guò)來(lái).. “。[4]。

濕度

水分的存在（或缺乏）的水分，也可以影響到紅外測(cè)試測(cè)量，水分含量越高，在空氣中，較低的紅外測(cè)試讀數(shù)。如果可能的話，不應(yīng)該進(jìn)行IR測(cè)試在很潮濕的環(huán)境中的露點(diǎn)以下。盡管目前還沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的校正因子或指導(dǎo)潮濕的條件下，這是很好的做法，使他們能夠在未來(lái)的測(cè)試中用于基線比較，記錄每個(gè)IR測(cè)試的相對(duì)濕度。例如，過(guò)去的數(shù)據(jù)上的紅外干燥和潮濕天的測(cè)試值，會(huì)給你的基礎(chǔ)，評(píng)估未來(lái)的測(cè)試值。